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yltylt2008 在线

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[促销] 供应 阻抗分析仪 日置HIOKI IM3570

供应 阻抗分析仪 日置HIOKI IM3570
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日置HIOKI IM3570阻抗分析仪简介:日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量。
日置HIOKI IM3570阻抗分析仪特点:
1、基本精度±0.08%的高精度测量,分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量。
2、LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量。
3、日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量。
4、1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查。
日置HIOKI IM3570阻抗分析仪技术参数:
测量模式
LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量

测量参数
Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q

测量量程
100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)

日置IM3570阻抗分析仪显示范围
Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示 值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)

基本精度
Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°

测量频率
4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)

测量信号电平
V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mArms,10uArms步进(1MHz以下)
10μA~10mArms,10uArms步进(1.0001MHz以上)

输出阻抗
普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω

显示
彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF

测量时间
0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)

测量速度
FAST/MED/SLOW/SLOW2

其他功能
DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能

接口
EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN

电源
AC90~264V,50/60Hz,大150VA

打印
拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)

日置IM3570阻抗分析仪接口
GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)

电源
AC90~264V,50/60Hz,大150VA

体积和重量
330W×119H×307Dmm,5.8kg

描述
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